五點(diǎn)試塊（五點(diǎn)試片）

簡要描述：sherwin五點(diǎn)試片,用來檢驗(yàn)滲透劑的靈敏度和操作工藝準(zhǔn)確性驗(yàn)證的手段，同時(shí)，該試塊帶有噴砂區(qū)的毛糙面，用來檢驗(yàn)滲透劑的清洗性能和清洗方法的準(zhǔn)確性進(jìn)行驗(yàn)證。它的靈敏度以顯示缺陷的點(diǎn)數(shù)和每一個(gè)點(diǎn)和每一個(gè)點(diǎn)的徑域直徑大小判斷。

產(chǎn)品型號：美國磁通TAM
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-04-15
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詳情介紹

美國磁通TAM五點(diǎn)試片是滲透檢測試塊，為4英寸X6英寸的不銹鋼試片。

sherwin五點(diǎn)試片,用來檢驗(yàn)滲透劑的靈敏度和操作工藝準(zhǔn)確性驗(yàn)證的手段，同時(shí)，該試塊帶有噴砂區(qū)的毛糙面，用來檢驗(yàn)滲透劑的清洗性能和清洗方法的準(zhǔn)確性進(jìn)行驗(yàn)證。它的靈敏度以顯示缺陷的點(diǎn)數(shù)和每一個(gè)點(diǎn)和每一個(gè)點(diǎn)的徑域直徑大小判斷。

關(guān)鍵詞：五點(diǎn)試片，五點(diǎn)試塊，不銹鋼試片

TAM試片
4英寸×6英寸的不銹鋼試片，可同時(shí)檢測滲透工藝的靈敏度和水洗性。
該試片一面為粗糙面，用于檢測水洗性，另一面為5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)。星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列，用于檢測靈敏度。
Pratt和Whitney TAM

件號：198055

配件號：146040

美國磁通TAM試片

美國磁通TAM試片是滲透檢測試塊，為4英寸X6英寸的不銹鋼試片，可同時(shí)檢測滲透工藝的靈敏度和水洗性。
美國磁通TAM試片一邊為粗糙表面用于檢測水洗性，另一邊為含有5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)，星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列，用于檢測靈敏度。
美國磁通TAM試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。

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